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研發(fā)技術(shù)中心簡介
研發(fā)技術(shù)中心成立于2022年，現(xiàn)占地面積約1000平方米,專注于為公司提供材料分析、品質(zhì)檢驗(yàn)、可靠性驗(yàn)證及失效分析等專業(yè)技術(shù)服務(wù)。

服務(wù)對象涉及新能源、汽車、光電及消費(fèi)電源等行業(yè)。分別設(shè)立了環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)室、電氣性能檢測實(shí)驗(yàn)室、材料分析實(shí)驗(yàn)室、微觀結(jié)構(gòu)分析實(shí)驗(yàn)室等多個檢測與分析實(shí)驗(yàn)室，借助科學(xué)的檢測分析方法、專業(yè)的工程技術(shù)人員和精良的儀器設(shè)備幫助公司解決在產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量驗(yàn)證等環(huán)節(jié)遇到的各種與材料相關(guān)的工程、科學(xué)和技術(shù)問題。
研發(fā)技術(shù)中心架構(gòu)
研發(fā)技術(shù)中心能力
物理性能測試
研發(fā)技術(shù)中心擁有先進(jìn)的儀器設(shè)備對實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象的觀察、分析和對物理量的測量提供技術(shù)支持。
服務(wù)項(xiàng)目
外觀檢查、尺寸測量、推拉力測試、疲勞測試、彎曲測試、端子強(qiáng)度測試等。
電氣性能測試
研發(fā)技術(shù)中心現(xiàn)有LCR測試儀、偏置電流源、智能安規(guī)測試儀、微電阻測試儀等先進(jìn)的知名品牌儀器設(shè)備對實(shí)驗(yàn)前后的性能變化提供技術(shù)數(shù)據(jù)支撐。
服務(wù)項(xiàng)目
阻抗測量、電感測量、電容測量、偏置電感測量、絕緣電阻測量、泄露電流測量、接地電阻、交直流耐壓、匝間耐壓測試、靜電放電測試等。
機(jī)械性能測試
產(chǎn)品在制造、運(yùn)輸、粗率裝卸及使用過程中的復(fù)雜環(huán)境，鑒定產(chǎn)品是否有承受此環(huán)境的能力，用于發(fā)現(xiàn)早期故障，模擬實(shí)際工況考核和結(jié)構(gòu)強(qiáng)度試驗(yàn)。
服務(wù)項(xiàng)目
高低頻正弦振動測試、隨機(jī)振動測試、機(jī)械沖擊測試等。
氣候環(huán)境測試
用于考核電工電子產(chǎn)品、元器件、材料等在高低溫、恒定濕熱、溫度循環(huán)變化等條件下，成品或元器件的使用及儲存適應(yīng)性，是產(chǎn)品中應(yīng)用最為廣泛的人工加速模擬試驗(yàn)類型。
服務(wù)項(xiàng)目
高溫、低溫、高低溫循環(huán)、快速溫變、恒溫恒濕、交變濕熱、冷熱沖擊測試等。
元器件結(jié)構(gòu)分析
研發(fā)技術(shù)中心擁有先進(jìn)高倍率放大測試儀，主要用于測量各種涂鍍層厚度，觀察材料內(nèi)部晶
體結(jié)構(gòu)及進(jìn)行電子元器件的剖面觀察分析。
服務(wù)項(xiàng)目
觀察元器件外觀及部位的表面形狀、尺寸、結(jié)構(gòu)及裂縫缺陷等。
元器件結(jié)構(gòu)分析
研發(fā)技術(shù)中心擁有進(jìn)口品牌日本巖崎B-H分析儀。用于檢測硅鋼板、鐵氧體、鐵粉芯、非晶體材料等軟磁性材料磁特性。
服務(wù)項(xiàng)目
最大磁通密度(Bm),剩余磁通密度(Br),最大磁場(Hm)矯頑磁力(Hc),角形比(Br/Bm),振幅比導(dǎo)磁率(ua),鐵損(Pc、Pcv、Pcm)電流電壓相位差(q),總磁通變化(2Φm)視在功率(VA),阻抗導(dǎo)磁率(uZ),復(fù)式本源導(dǎo)磁率(m'、m''),消耗因子(tanδ),電感(L),抵抗運(yùn)動(R),阻抗(Z),品質(zhì)系數(shù)(Q)